一种新的全轴随机振动试验环境特性研究

描述：针对新型的可靠性强化振动试验设备——反复冲击机 ,对其全轴进行了随机振动特性研究。对此类非平稳非高斯的多轴随机振动信号 ,建立了全面的数字表征和相关的物理解释 ,并就相应特征与常规试验的电磁振动台进行了比较。结果表明 ,反复冲击机的振动激励从频带范围、峰值分布、应力加载率等方面 ,都明显优于电磁振动台 ,并且反复冲击机的椭球振动能同时施加多轴应力 ,从而有更高的缺陷激发能力。

可靠性增长分析的整体推断技术

描述：Gamma分布函数Г(α, β)常常用作贝叶斯指数可靠性增长模型的先验分布密度函数，参数α、β值的不同，将使增长试验的评估结果有很大的差异。引入服从逆Gamma分布的折合因子，得到一种可靠性增长分析的整体推断技术。该技术是闭合的，具有递推分析形式。通过典型示例与其它确定分布参数的方法进行比较，可知这种方法更加接近工程实际。

多轴同步载荷的疲劳强化效能探讨

描述：针对可靠性强化试验的RS(repetitive shock)机全轴随机振动环境3个主要特性之一的多轴同步加载特性开展其疲劳强化机理研究。本文首先归纳了多轴疲劳频域分析方法,然后在此基础上证明了多轴振动激励同步加载比单轴振动激励依次加载更能有效激发疲劳失效,从而揭示RS机全轴随机振动环境多轴同步加载特性的疲劳强化机理。

HALT试验高效率振动剖面的建立

描述：HALT(Highly Accelerated Life Test,高加速寿命试验)是一项新的可靠性试验技术,具体实施还缺乏系统的理论指导。针对HALT试验中的振动激励应力,采用Matlab/Simulink仿真分析了试件在频谱可控的超高斯振动激励作用下的响应特点,研究了HALT试验振动激励剖面参数(带宽、均方根值、峭度)以及试件本身动力学特性(固有频率、阻尼)对试件响应特性(带宽、均方根值、峭度)的影响,进而给出了理论解释。最后归纳了HALT试验高效率振动剖面的建立方法,并以典型印制电路板为例进行了试验验证。结果表明本文提出的方法是有效的。

可靠性强化试验及其在某通信产品中的应用研究

描述：简要介绍了可靠性强化试验的概念及其国内外研究现状.以某公司通信产品的可靠性强化试验为例,阐述了强化试验的全过程和有关的试验技术与方法,给出了部分典型强化试验应力剖面和试验结果,通过对试验结果的分析得出了相关结论.在此基础上进一步总结了可靠性强化试验技术研究及应用中亟待解决的问题.

超高斯随机振动环境的疲劳强化机理

描述：针对可靠性强化试验的全轴随机振动环境的超高斯幅值分布特性开展其疲劳强化机理研究。首先通过理论分析表明RS机振动激励下试件应力仍保持超高斯分布,然后证明了同等量级下的超高斯分布比高斯分布随机应力具有更高的疲劳强化效能,从而揭示RS机全轴随机振动环境超高斯幅值分布特性的疲劳强化机理。

波浪补偿系统差动行星传动多目标模糊可靠性优化设计

描述：将模糊可靠性设计应用于波浪补偿系统的差动行星传动装置优化设计,在一般优化设计方法的基础上,建立以波浪补偿系统差动行星传动机构"体积最小"、"径向尺寸最小"、"传动效率最高"、"行星轮轴承温升最小"、"外啮合膜厚比最大"和"外啮合齿根最大滑动率最小"等为分目标的多目标模糊可靠性优化设计数学模型,研究处理多目标优化问题的模糊决策方法以及基于遗传算法的混合离散变量离散化处理方法,得到多目标模糊优化问题的求解方法。结合实例进行分析计算,经对比分析得出模糊可靠性优化设计更接近工程实际的结论。

基于马尔可夫过程的k/n(G)系统共因失效分析

描述：利用马尔可夫过程研究了发生共因失效的k/n(G)系统可靠度计算方法。建立了共因失效时部件全部失效和共因失效时多个部件失效这两种情况下,不可修系统和可修系统的马尔可夫模型。分析了系统部分部件属于共因失效组的可靠度计算方法。利用算例验证了所建立的模型的有效性,结果显示,所建立的马尔可夫模型适用范围广,计算方便。

气动式振动台振动信号低频能量改善研究

描述：气动式振动台振动信号的低频能量较低,这限制了该类设备在电子产品可靠性强化试验中的进一步应用。由于商业竞争和技术保密等原因,目前国内对该设备的优化设计与自主研发尚未全面展开。本文以气动式振动台的关键部件——气锤为切入点,在全面掌握气锤产生激励信号机理的基础上,推导了气锤产生激励信号的自谱和低频能量的解析表达式,研究了气锤参数(材料参数和结构参数)对气锤产生的激励信号乃至振动台振动信号低频能量的影响,提出了一种改善气动式振动台低频能量的工程可行途径,这对该类设备的性能改善以及自主研发均具有一定的指导意义。

电子倍增器的加速试验方法及其寿命预测研究

描述：对电子倍增器的加速试验方法及其寿命预测理论进行了研究。首先,建立了电子倍增器加速退化试验系统,设计了加速退化试验方案;然后,对电子倍增器进行了加速退化试验;最后,提出了电子倍增器的双恒定应力加速退化试验数据的分析方法,并对分析结果进行了模型检验分析,验证了该方法的有效性。